電容失配校正電路和電容失配校正方法專利登記公告
專利名稱：電容失配校正電路和電容失配校正方法
摘要：本發(fā)明涉及一種電容失配校正電路和電容失配校正方法。所述電容失配校正電路應(yīng)用于集成電路，所述集成電路包括電容并聯(lián)電路，所述電容并聯(lián)電路包括兩個以上并聯(lián)連接的電容，所述電容失配校正電路集成在所述集成電路中，所述電容失配校正電路用于提供校正信號，將所述校正信號發(fā)送到所述集成電路的節(jié)點或支路，所述校正信號用于對所述節(jié)點或支路的信號進行補償以對所述電容并聯(lián)電路的電容失配進行校正。本發(fā)明可以校正電容間的失配，同時保持集成電路的原有電路結(jié)構(gòu)不變，降低對集成電路的面積和復(fù)雜度的影響。
專利類型：發(fā)明專利
專利號：CN201210177165.7
專利申請（專利權(quán)）人：北京昆騰微電子有限公司
專利發(fā)明（設(shè)計）人：殷秀梅;張弛;曹靖
主權(quán)項：一種電容失配校正電路，應(yīng)用于集成電路，所述集成電路包括電容并聯(lián)電路，所述電容并聯(lián)電路包括兩個以上并聯(lián)連接的電容，其特征在于，所述電容失配校正電路集成在所述集成電路中，所述電容失配校正電路用于提供校正信號，將所述校正信號發(fā)送到所述集成電路的節(jié)點或支路，所述校正信號用于對所述節(jié)點或支路的信號進行補償以對所述電容并聯(lián)電路的電容失配進行校正。
專利地區(qū)：北京
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