A/D轉(zhuǎn)換器的測(cè)試裝置以及測(cè)試方法專利登記公告

專利名稱：A/D轉(zhuǎn)換器的測(cè)試裝置以及測(cè)試方法

摘要：本發(fā)明涉及A/D轉(zhuǎn)換器的測(cè)試裝置以及測(cè)試方法，其能縮短A/D轉(zhuǎn)換器的測(cè)試時(shí)間。本發(fā)明可提供對(duì)N位(N是自然數(shù))的A/D轉(zhuǎn)換器(1)進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置(2)。電壓生成部(10)對(duì)A/D轉(zhuǎn)換器(1)輸出2N等級(jí)的模擬電壓VIN。采集單元(20)對(duì)各等級(jí)中的A/D轉(zhuǎn)換器(1)的輸出代碼DOUT進(jìn)行采集。信號(hào)處理部(30)將在各等級(jí)中所采集的輸出代碼DOUT與對(duì)應(yīng)的期望值代碼EXP進(jìn)行比較，根據(jù)比較結(jié)果對(duì)各等級(jí)的模擬電壓VIN的值進(jìn)行校正，并使校正后的模擬電壓VIN輸出到電壓生成部(10)。

專利類型：發(fā)明專利

專利號(hào)：CN201210061576.X

專利申請(qǐng)（專利權(quán)）人：株式會(huì)社愛德萬測(cè)試

專利發(fā)明（設(shè)計(jì)）人：淺見幸司;古川靖夫

主權(quán)項(xiàng)：一種測(cè)試裝置，其是N位的A/D轉(zhuǎn)換器的測(cè)試裝置，N是自然數(shù)，其特征在于，包括：電壓生成部，其對(duì)所述A/D轉(zhuǎn)換器輸出2N等級(jí)的模擬電壓；采集單元，其對(duì)各等級(jí)中的所述A/D轉(zhuǎn)換器的輸出代碼進(jìn)行采集；信號(hào)處理部，其將在各等級(jí)中所采集的輸出代碼與對(duì)應(yīng)的期望值代碼進(jìn)行比較，根據(jù)比較結(jié)果對(duì)各等級(jí)的模擬電壓的值進(jìn)行校正，并使校正后的模擬電壓輸出到所述電壓生成部。

專利地區(qū)：日本