可實(shí)現(xiàn)模式間距為100GHz的雙模激射半導(dǎo)體激光器專利登記公告
專利名稱:可實(shí)現(xiàn)模式間距為100GHz的雙模激射半導(dǎo)體激光器
摘要:本發(fā)明公開了一種可實(shí)現(xiàn)模式間距為100GHz的雙模激射半導(dǎo)體激光器,包括:一襯底;一n-InP緩沖層;一InGaAsP下限制層;一多量子阱有源層;一InGaAsP上限制層,其表面形成有布拉格光柵結(jié)構(gòu),該布拉格光柵結(jié)構(gòu)制作于光柵區(qū);一p-InP層;一p-InGaAsP刻蝕阻止層;一上p-InP蓋層;一p-InGaAs歐姆接觸層,在該p-InGaAs歐姆接觸層上形成有隔離溝,該隔離溝將該p-InGaAs歐姆接觸層分為四段;以及分別形成在四段p-InGaAs歐姆接觸層上的金屬電極層;其中,該p-InGaAs歐姆
專利類型:發(fā)明專利
專利號(hào):CN201210155449.6
專利申請(qǐng)(專利權(quán))人:中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所
專利發(fā)明(設(shè)計(jì))人:余力強(qiáng);趙玲娟;朱洪亮;吉晨;陸丹;潘教青;王圩
主權(quán)項(xiàng):一種可實(shí)現(xiàn)模式間距為100GHz的雙模激射半導(dǎo)體激光器,其特征在于,包括:一襯底;一n?InP緩沖層,該n?InP緩沖層制作在襯底上;一InGaAsP下限制層,該InGaAsP下限制層制作在該n?InP緩沖層上;一多量子阱有源層,該多量子阱有源層制作在該InGaAsP下限制層上;一InGaAsP上限制層,該InGaAsP上限制層制作在該多量子阱有源層上,其表面形成有布拉格光柵結(jié)構(gòu),該布拉格光柵結(jié)構(gòu)制作于光柵區(qū);一p?InP層,該p?InP層制作在該InGaAsP上限制層上;一p?InGaAsP刻蝕阻止層,
專利地區(qū):北京
關(guān)于上述專利公告申明 : 上述專利公告轉(zhuǎn)載自國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局網(wǎng)站專利公告欄目,不代表該專利由我公司代理取得,上述專利權(quán)利屬于專利權(quán)人,未經(jīng)(專利權(quán)人)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如您希望使用該專利,請(qǐng)搜索專利權(quán)人聯(lián)系方式,獲得專利權(quán)人的授權(quán)許可。