均相測量方法和測量試劑專利登記公告

專利名稱：均相測量方法和測量試劑

摘要：提供了使用不溶性載體顆粒的均相測量方法；尤其是使用擔載抗體、抗原等的不溶性載體顆粒的凝集測量方法。更具體地，提供了一種LTIA測量方法，該方法減弱源自檢驗樣品的基質(zhì)效應并且還減小具有不同規(guī)格的自動化分析設(shè)備之間測量精度的差異。還提供了用于與自動化分析設(shè)備一起使用的測量試劑。添加硅氧烷系消泡劑來配制所述測量試劑使源自檢驗樣品的基質(zhì)效應減弱，并且還在不改變測量試劑的基本能力的前提下，減小具有不同規(guī)格的自動化分析設(shè)備之間的測量精度范圍。

專利類型：發(fā)明專利

專利號：CN201080054172.7

專利申請（專利權(quán)）人：積水醫(yī)療株式會社

專利發(fā)明（設(shè)計）人：高橋弘至;高橋由紀;金子智惠

主權(quán)項：一種用于自動化分析儀用均相測量方法的試劑，所述試劑包含不溶性載體顆粒，其特征在于所述試劑的構(gòu)成試劑包含硅氧烷系消泡劑，其中在所述構(gòu)成試劑中蛋白濃度低于2％(w/v)，并且所述試劑被用于測量，其中通過自動化分析儀分配的樣品和所述試劑的總液體體積低于300μL并且包含所述不溶性載體顆粒的所述試劑的液體體積占所述總液體體積的20至50％(v/v)。

專利地區(qū)：日本