校正X射線探測(cè)器的探測(cè)器數(shù)據(jù)的方法和X射線拍攝系統(tǒng)專利登記公告

專利名稱：校正X射線探測(cè)器的探測(cè)器數(shù)據(jù)的方法和X射線拍攝系統(tǒng)

摘要：本發(fā)明涉及用于校正X射線探測(cè)器(C3，C5)的探測(cè)器數(shù)據(jù)的方法，其中在當(dāng)前測(cè)量中關(guān)于整個(gè)X射線探測(cè)器或者關(guān)于X射線探測(cè)器的局部區(qū)域，就由此引起的測(cè)量靈敏度衰減以及測(cè)量靈敏度衰減的恢復(fù)來(lái)說(shuō)，考慮X射線探測(cè)器的射線負(fù)荷的歷史，并通過(guò)取決于射線負(fù)荷歷史的校正因數(shù)校正確定的測(cè)量信號(hào)。本發(fā)明還涉及特別在CT系統(tǒng)或C形臂系統(tǒng)(C1)中的X射線拍攝系統(tǒng)，具有探測(cè)器和讀取裝置，該探測(cè)器具有按照組逐信道地讀取的多個(gè)探測(cè)器元件，該讀取裝置具有計(jì)算機(jī)輔助裝置(C10)以在將探測(cè)器數(shù)據(jù)進(jìn)一步處理為投影的或斷層造影的圖像之前校正讀

專利類型：發(fā)明專利

專利號(hào)：CN201210082177.1

專利申請(qǐng)（專利權(quán)）人：西門子公司

專利發(fā)明（設(shè)計(jì)）人：S.卡普勒;J.基普斯;E.克拉夫特;D.尼德爾洛赫納;T.雷切爾;C.施羅特;T.馮德哈爾

主權(quán)項(xiàng)：一種用于校正X射線探測(cè)器(C3，C5)的探測(cè)器數(shù)據(jù)的方法，其特征在于，在當(dāng)前測(cè)量中關(guān)于整個(gè)X射線探測(cè)器或者關(guān)于X射線探測(cè)器的局部區(qū)域，就由此引起的測(cè)量靈敏度衰減以及測(cè)量靈敏度衰減的恢復(fù)來(lái)說(shuō)，考慮X射線探測(cè)器(C3，C5)的射線負(fù)荷的歷史，并且通過(guò)取決于射線負(fù)荷歷史的校正因數(shù)來(lái)校正確定的測(cè)量信號(hào)。

專利地區(qū)：德國(guó)