原子振蕩器用光學(xué)模塊以及原子振蕩器專利登記公告

專利名稱：原子振蕩器用光學(xué)模塊以及原子振蕩器

摘要：本發(fā)明提供一種原子振蕩器用光學(xué)模塊以及原子振蕩器。該原子振蕩器用光學(xué)模塊是利用量子干涉效應(yīng)的原子振蕩器用光學(xué)模塊，包括：光源，其射出包含具有規(guī)定波長的基波、和該基波的邊帶的光；波長選擇部，其被射入來自上述光源的光，并使上述邊帶透過；氣室，該氣室中封入了堿金屬氣體，且該氣室被透過上述波長選擇部后的光照射；光檢測部，其對透過上述氣室后的光的強(qiáng)度進(jìn)行檢測，上述波長選擇部具有：濾光器部，其使規(guī)定的波長范圍的光透過；濾光器特性控制部，其使透過上述濾光器部的光的波長范圍變化。

專利類型：發(fā)明專利

專利號：CN201210064106.9

專利申請（專利權(quán)）人：精工愛普生株式會社

專利發(fā)明（設(shè)計）人：西田哲朗

主權(quán)項：一種原子振蕩器用光學(xué)模塊，其特征在于，是利用量子干涉效應(yīng)的原子振蕩器用光學(xué)模塊，該原子振蕩器用光學(xué)模塊包括：光源，其射出包含具有規(guī)定波長的基波、和該基波的邊帶的光；波長選擇部，其被射入來自所述光源的光，并使該射入的光中的所述邊帶透過；氣室，該氣室中封入了堿金屬氣體，且該氣室被透過所述波長選擇部后的光照射；光檢測部，其對照射到所述氣室的光中透過所述氣室后的光的強(qiáng)度進(jìn)行檢測；所述波長選擇部具有：濾光器部，其使規(guī)定的波長范圍的光透過；濾光器特性控制部，其使透過所述濾光器部的光的波長范圍變化。

專利地區(qū)：日本