原子振蕩器用光學(xué)模塊以及原子振蕩器專利登記公告

專利名稱：原子振蕩器用光學(xué)模塊以及原子振蕩器

摘要：本發(fā)明涉及原子振蕩器用光學(xué)模塊以及原子振蕩器。利用量子干涉效應(yīng)的原子振蕩器用光學(xué)模塊包括：光源，其射出包含具有規(guī)定波長的基波、和該基波的邊帶的光；波長選擇部，其被射入來自所述光源的光，并使該射入的光中的所述邊帶透過；氣室，該氣室中封入了堿金屬氣體，且該氣室被照射透過所述波長選擇部的光；和光檢測部，其檢測向所述氣室照射的光中透過所述氣室后的光的強度，其中，所述波長選擇部具有光纖布拉格光柵和向所述光纖布拉格光柵施加電壓的電壓施加部。

專利類型：發(fā)明專利

專利號：CN201210032947.1

專利申請（專利權(quán)）人：精工愛普生株式會社

專利發(fā)明（設(shè)計）人：西田哲朗

主權(quán)項：一種原子振蕩器用光學(xué)模塊，其特征在于，是利用量子干涉效應(yīng)的原子振蕩器用光學(xué)模塊，該原子振蕩器用光學(xué)模塊包括：光源，其射出包含具有規(guī)定波長的基波、和該基波的邊帶的光；波長選擇部，其被入射來自所述光源的光，并使該射入的光中的所述邊帶透過；氣室，該氣室中封入了堿金屬氣體，且該氣室被照射透過所述波長選擇部后的光；和光檢測部，其檢測向所述氣室照射的光中透過所述氣室后的光的強度，其中，所述波長選擇部具有：光纖布拉格光柵，和電壓施加部，其向所述光纖布拉格光柵施加電壓。

專利地區(qū)：日本