物體檢測(cè)裝置及信息取得裝置專利登記公告

專利名稱：物體檢測(cè)裝置及信息取得裝置

摘要：本發(fā)明公開(kāi)一種即使激光的點(diǎn)圖案因衍射光學(xué)元件的形狀、位置及激光的波長(zhǎng)等而變化，也能夠適當(dāng)?shù)貦z測(cè)到檢測(cè)對(duì)象物體的距離的信息取得裝置及搭載該信息取得裝置的物體檢測(cè)裝置。信息取得裝置(1)具有：射出波長(zhǎng)為830nm左右的激光的激光光源(111)；將激光朝向所述目標(biāo)區(qū)域投射的投射光學(xué)系統(tǒng)(11)；對(duì)來(lái)自所述目標(biāo)區(qū)域的反射光進(jìn)行受光并輸出信號(hào)的CMOS圖像傳感器(124)；保持基準(zhǔn)樣板的存儲(chǔ)器(25)，該基準(zhǔn)樣板通過(guò)將由CMOS圖像傳感器(124)所受光的光的基準(zhǔn)圖案利用呈矩陣狀排列的基準(zhǔn)分段區(qū)域劃分而成；更新基準(zhǔn)

專利類型：發(fā)明專利

專利號(hào)：CN201180005133.2

專利申請(qǐng)（專利權(quán)）人：三洋電機(jī)株式會(huì)社

專利發(fā)明（設(shè)計(jì)）人：森本高明;楳田勝美

主權(quán)項(xiàng)：一種信息取得裝置，利用光來(lái)取得目標(biāo)區(qū)域的信息，其特征在于，具有：光源，其射出規(guī)定波段的光；投射光學(xué)系統(tǒng)，其將從所述光源射出的光以規(guī)定的點(diǎn)圖案朝向所述目標(biāo)區(qū)域投射；受光元件，其對(duì)從所述目標(biāo)區(qū)域反射的反射光進(jìn)行受光并輸出信號(hào)；存儲(chǔ)部，其對(duì)在由所述受光元件所受光的所述光的基準(zhǔn)圖案中設(shè)定有多個(gè)基準(zhǔn)分段區(qū)域的基準(zhǔn)樣板進(jìn)行存儲(chǔ)；更新部，其對(duì)所述基準(zhǔn)樣板進(jìn)行更新，所述更新部根據(jù)在所述基準(zhǔn)樣板中設(shè)定的參照分段區(qū)域的實(shí)測(cè)時(shí)的位移，來(lái)更新所述基準(zhǔn)樣板。

專利地區(qū)：日本