用于測序聚合物的受控的隧道間隙設(shè)備專利登記公告

專利名稱：用于測序聚合物的受控的隧道間隙設(shè)備

摘要：本發(fā)明包括了用于分析聚合物和/或聚合物單元的組合物、設(shè)備和方法。所述聚合物可以是同型-或異型聚合物，例如，DNA、RNA、多糖或肽。所述設(shè)備包括電極，所述電極形成聚合物可以穿過的隧道缺口。電極用附著于其上的試劑來功能化，所述試劑能夠與聚合物單元形成短暫的鍵。當在試劑和單元之間形成短暫的鍵時，產(chǎn)生可檢測信號，用于分析聚合物。

專利類型：發(fā)明專利

專利號：CN201180004174.X

專利申請（專利權(quán)）人：阿利桑那卅評議會

專利發(fā)明（設(shè)計）人：S.林賽;S.常;J.何;P.張;S.黃

主權(quán)項：一種用于分析聚合物的設(shè)備，所述設(shè)備包括（a）第一和第二電極，它們形成所述聚合物可以穿過的隧道間隙；和（b）附著到所述第一電極的第一試劑和附著到所述第二電極的第二試劑，其中所述第一和第二試劑各自能夠與聚合物的單元形成瞬時的鍵，其中當瞬時的鍵形成時產(chǎn)生可檢測信號。

專利地區(qū)：美國