以子列為單位的掃描方法專利登記公告

專利名稱：以子列為單位的掃描方法

摘要：本發(fā)明公開了一種以子列為單位的掃描方法，選定一個(gè)N×M的像素點(diǎn)單元，則像素點(diǎn)單元含有N個(gè)子列，每個(gè)子列含有M個(gè)像素點(diǎn)，按行掃描第一個(gè)子列的像素點(diǎn)，一個(gè)像素時(shí)鐘掃描一個(gè)像素，然后依次掃描第二至第N個(gè)子列，結(jié)束后掃描下一個(gè)像素點(diǎn)單元，直至掃描完全部像素點(diǎn)。本發(fā)明將圖像按行掃描改為按子列掃描，大大縮短了像均值濾波、中值濾波、SOBEL算子做邊緣提取等圖像處理時(shí)間，同時(shí)節(jié)省了硬件資源。

專利類型：發(fā)明專利

專利號(hào)：CN201110411442.1

專利申請(qǐng)（專利權(quán)）人：蘇州科雷芯電子科技有限公司

專利發(fā)明（設(shè)計(jì)）人：鞠怡明

主權(quán)項(xiàng)：一種以子列為單位的掃描方法，其特征在于：包括以下步驟：選定一個(gè)N×M的像素點(diǎn)單元，N為像素點(diǎn)單元的寬度，M為像素點(diǎn)單元的高度，定義像素中心坐標(biāo)為（x，y），像素點(diǎn)單元有N個(gè)子列，每個(gè)子列含有M個(gè)像素點(diǎn)；掃描第一個(gè)子列的像素點(diǎn)，一個(gè)像素時(shí)鐘掃描一個(gè)像素；按步驟b的方法依次掃描第二至第N個(gè)子列；掃描像素中心坐標(biāo)為（x+1，y）的像素點(diǎn)單元，一行掃描完后進(jìn)行下一行的掃描，掃描方法與步驟b、步驟c相同，直至掃描完全部像素點(diǎn)。

專利地區(qū)：江蘇