用于檢測(cè)圖像傳感器的裝置及檢測(cè)方法專利登記公告
專利名稱：用于檢測(cè)圖像傳感器的裝置及檢測(cè)方法
摘要：本發(fā)明公開一種用于檢測(cè)圖像傳感器的裝置，按照光傳播的方向依次包括：光源、光衰減器、第一透鏡組、第二透鏡組、光闌及圖像傳感器，通過調(diào)整所述光衰減器的透過率以獲得不同光光強(qiáng)下所述圖像傳感器的曝光圖像。本發(fā)明同時(shí)公開一種用于檢測(cè)圖像傳感器的方法，包括：獲得不同光強(qiáng)下的傳感器曝光圖像，根據(jù)所述曝光圖像標(biāo)定所述傳感器的壞點(diǎn)，根據(jù)壞簇定義標(biāo)定出傳感器的壞簇區(qū)域，對(duì)所述壞簇區(qū)域排序后尋找測(cè)量效果好的區(qū)域。
專利類型：發(fā)明專利
專利號(hào)：CN201110065118.9
專利申請(qǐng)（專利權(quán)）人：上海微電子裝備有限公司
專利發(fā)明（設(shè)計(jì)）人：葛亮;王帆
主權(quán)項(xiàng)：一種用于檢測(cè)圖像傳感器的裝置，按照光傳播的方向依次包括：光源、光衰減器、第一透鏡組、第二透鏡組、光闌及圖像傳感器，其特征在于，通過調(diào)整所述光衰減器的透過率以獲得不同光光強(qiáng)下所述圖像傳感器的曝光圖像。
專利地區(qū)：上海
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