用于顯微鏡檢查的傳感器專利登記公告

專利名稱：用于顯微鏡檢查的傳感器

摘要：本發(fā)明涉及一種利用包括傳感器的數(shù)字掃描器對樣本進行顯微成像的方法，所述傳感器包括像素的2D陣列，本發(fā)明還涉及一種執(zhí)行這種方法的數(shù)字掃描顯微鏡。尤其提供了一種用于利用包括傳感器的掃描器對樣本進行顯微成像的方法，傳感器包括XY坐標(biāo)系中的像素的2D陣列，Y軸基本垂直于掃描方向，其中，所述掃描器被布置成使得所述傳感器能夠?qū)颖镜男苯孛娉上?，并且其中，所述方法包括如下步驟：激活像素的2D陣列的第一子陣列，所述第一子陣列主要在第一X坐標(biāo)（X1）處沿Y軸延伸，利用所述第一像素子陣列，通過對所述樣本的第一區(qū)域成像來生成第

專利類型：發(fā)明專利

專利號：CN201080060107.5

專利申請（專利權(quán)）人：皇家飛利浦電子股份有限公司

專利發(fā)明（設(shè)計）人：B·胡什肯;S·斯托林加

主權(quán)項：一種用于利用包括傳感器的掃描器對樣本進行顯微成像的方法，所述傳感器包括XY坐標(biāo)系中的像素的2D陣列，Y軸基本垂直于掃描方向，其中，所述掃描器被布置成使得所述傳感器能夠?qū)λ鰳颖镜男苯孛娉上?，并且其中，所述方法包括如下步驟：·激活像素的所述2D陣列的第一子陣列，所述第一子陣列主要在第一X坐標(biāo)（X1）處沿所述Y軸延伸，·通過利用像素的所述第一子陣列對所述樣本的第一區(qū)域成像來生成第一圖像。

專利地區(qū)：荷蘭