微陣列的檢測方法專利登記公告

專利名稱：微陣列的檢測方法

摘要：本發(fā)明的目的在于提供一種客觀地判定每個微陣列的性能退化或清洗不充分等以及雜交失敗的方法，具體而言，涉及一種使用微陣列檢測探針多核苷酸和靶多核苷酸的雜交的方法，包含1)使具有分別添加多種探針多核苷酸的多個固定的檢測用點(diǎn)、及一處以上的固定有兩種以上固定于檢測用點(diǎn)上的探針多核苷酸的基準(zhǔn)點(diǎn)的微陣列與熒光標(biāo)記的靶多核苷酸接觸的工序，2)通過清洗微陣列除去未反應(yīng)的靶多核苷酸的工序，3)測定基準(zhǔn)點(diǎn)上的熒光，若滿足規(guī)定值則判斷為可測定的工序，及4)若判斷為可測定，則測定固定有探針多核苷酸的各檢測用點(diǎn)上的熒光的工序。

專利類型：發(fā)明專利

專利號：CN201080059469.2

專利申請（專利權(quán)）人：東洋鋼鈑株式會社

專利發(fā)明（設(shè)計）人：山野博文;平山幸一;伊藤茜

主權(quán)項：一種使用微陣列檢測探針多核苷酸和靶多核苷酸的雜交的方法，包含：1)使具有分別添加多種探針多核苷酸的多個固定的檢測用點(diǎn)、及一處以上的固定有兩種以上固定于檢測用點(diǎn)上的探針多核苷酸的基準(zhǔn)點(diǎn)的微陣列與熒光標(biāo)記的靶多核苷酸接觸的工序；2)通過清洗微陣列除去未反應(yīng)的靶多核苷酸的工序；3)測定基準(zhǔn)點(diǎn)上的熒光，若滿足規(guī)定值則判斷為可測定的工序；及4)若判斷為可測定，則測定固定有探針多核苷酸的各檢測用點(diǎn)上的熒光的工序。

專利地區(qū)：日本