分析查詢優(yōu)化器性能的設備和方法專利登記公告

專利名稱：分析查詢優(yōu)化器性能的設備和方法

摘要：一種分析查詢優(yōu)化器性能的方法包括識別事件觸發(fā)。構造表征事件觸發(fā)時用戶計算機的運行參數(shù)的再現(xiàn)對象。將該再現(xiàn)對象從用戶計算機傳送到測試計算機。在測試計算機上分析該再現(xiàn)對象來表征查詢優(yōu)化器的性能。

專利類型：發(fā)明專利

專利號：CN201080059390.X

專利申請（專利權）人：伊姆西公司

專利發(fā)明（設計）人：布萊恩·哈根布赫;西瓦拉姆克里斯南·納拉亞南;威廉·C·惠普奇;弗洛里安·瓦斯

主權項：一種分析查詢優(yōu)化器性能的方法，包括：識別事件觸發(fā)；在用戶計算機上構造表征所述事件觸發(fā)時所述用戶計算機的運行參數(shù)的再現(xiàn)對象；將所述再現(xiàn)對象從所述用戶計算機傳送到測試計算機；以及在所述測試計算機上分析所述再現(xiàn)對象以表征查詢優(yōu)化器的性能。

專利地區(qū)：美國