用于以光學方式測量范圍、位置和/或輪廓的傳感器及其方法專利登記公告

專利名稱：用于以光學方式測量范圍、位置和/或輪廓的傳感器及其方法

摘要：本發(fā)明涉及一種光學傳感器，用于以光學方式測量被測目標體的范圍、位置和/或輪廓，所述的被測目標體因被測目標體的溫度引發(fā)電磁輻射，所述的傳感器具有光源和檢測器，所述的光源用于被測目標體的表面照明，所述的檢測器用于檢測被測目標體反射的照明光，其特征在于所述光源產(chǎn)生的光的波長低于被測目標體的普朗克輻射譜的峰值，由此帶來甚至可對發(fā)射電磁輻射的物體進行測性。詳細說明了一種相應的方法。

專利類型：發(fā)明專利

專利號：CN201080057087.6

專利申請（專利權(quán)）人：微－埃普西龍光電股份有限公司

專利發(fā)明（設計）人：T·施塔梅斯特;T·奧托

主權(quán)項：用于以光學方式測量被測目標體的范圍、位置和/或輪廓的傳感器，所述的被測目標體因被測目標體的溫度引發(fā)電磁輻射，所述的傳感器具有光源和檢測器，所述的光源用于被測目標體的表面照明，所述的檢測器用于檢測被測目標體反射的照明光，其特征在于：所述光源產(chǎn)生的光的波長低于被測目標體的普朗克輻射譜的峰值。

專利地區(qū)：德國