檢驗裝置和用于定位檢驗裝置的方法專利登記公告

專利名稱：檢驗裝置和用于定位檢驗裝置的方法

摘要：公開了一種檢驗裝置（1），所述檢驗裝置包括遠端的區(qū)域（2）、近端的區(qū)域（3）以及設(shè)置在所述遠端的區(qū)域（2）和所述近端的區(qū)域（3）之間的柔性區(qū)域（4）。在此，所述柔性區(qū)域（4）包括多個能相對彼此運動地設(shè)置的部段（5）。至少一個外部的引導(dǎo)元件（6）設(shè)置在所述遠端的區(qū)域（2）和所述近端的區(qū)域（3）之間的柔性區(qū)域（4）之外，使得所述遠端的區(qū)域（2）能借助所述外部的引導(dǎo)元件（6）相對于所述近端的區(qū)域（3）運動。

專利類型：發(fā)明專利

專利號：CN201080050939.9

專利申請（專利權(quán)）人：西門子公司

專利發(fā)明（設(shè)計）人：卡斯滕·布羅達;賴納·霍夫曼

主權(quán)項：檢驗裝置（1），所述檢驗裝置包括遠端的區(qū)域（2）、近端的區(qū)域（3）以及設(shè)置在所述遠端的區(qū)域（2）和所述近端的區(qū)域（3）之間的柔性區(qū)域（4），其中，所述柔性區(qū)域（4）包括多個能相對彼此運動地設(shè)置的部段（5），其特征在于，至少一個外部的引導(dǎo)元件（6）設(shè)置在所述遠端的區(qū)域（2）和所述近端的區(qū)域（3）之間的所述柔性區(qū)域（4）之外，使得所述遠端的區(qū)域（2）能借助所述外部的引導(dǎo)元件（6）相對于所述近端的區(qū)域（3）運動。

專利地區(qū)：德國