發(fā)光元件用光接收模塊及發(fā)光元件用檢查裝置專利登記公告

專利名稱：發(fā)光元件用光接收模塊及發(fā)光元件用檢查裝置

摘要：本發(fā)明提供一種發(fā)光元件用光接收模塊及發(fā)光元件用檢查裝置，可高精度地計算出發(fā)光元件發(fā)出的光量。上述發(fā)光元件用光接收模塊（1）具有與LED（101）相對配置、用于接收LED（101）發(fā)出的光并測定其光量的光檢測器（105），以及將LED（101）發(fā)出的光引導(dǎo)至波長測定部（121）進行波長測定的導(dǎo)光部（104）。導(dǎo)光部（104）延伸設(shè)置在形成于與所述光檢測器（105）相對的LED（101）的面所形成的平面和與LED（101）相對的光檢測器（105）的面所形成的平面之間的空間中，導(dǎo)光部（104）的延伸方向與LED

專利類型：發(fā)明專利

專利號：CN201080044419.7

專利申請（專利權(quán)）人：日本先鋒公司;日本先鋒自動化公司

專利發(fā)明（設(shè)計）人：藤森昭一;望月學(xué);廣田浩義;市川美穗

主權(quán)項：一種發(fā)光元件用光接收模塊，其特征在于，包括：光接收部，其與發(fā)光元件相對配置，用于接收該發(fā)光元件發(fā)出的光并測定其光量；導(dǎo)光部，其將所述發(fā)光元件發(fā)出的光引導(dǎo)至用于測定波長的波長測定部，所述導(dǎo)光部延伸設(shè)置于一空間中，該空間形成于與所述光接收部相對的所述發(fā)光元件的面所形成的平面和與所述發(fā)光元件相對的所述光接收部的面所形成的平面之間，所述導(dǎo)光部的延伸方向與所述發(fā)光元件的光軸不一致。

專利地區(qū)：日本