序列校正方法與序列校正裝置專利登記公告
專利名稱：序列校正方法與序列校正裝置
摘要：本發(fā)明提供一種序列校正的方法，包括：(a)藉由一接收單元，獲得來自一相同來源的一第一讀出序列與一第二讀出序列；(b)藉由一測定單元，設(shè)定一比較條件；(c)藉由該測定單元，根據(jù)該比較條件比較該第一讀出序列與該第二讀出序列以產(chǎn)生一序列比較結(jié)果；以及(d)藉由該測定單元，根據(jù)該序列比較結(jié)果輸出一校正序列，其中該比較條件系根據(jù)該第一讀出序列之一第一序列子集目錄與該第二讀出序列之一第二序列子集目錄來設(shè)定。
專利類型：發(fā)明專利
專利號：CN201080041764.5
專利申請（專利權(quán)）人：財(cái)團(tuán)法人工業(yè)技術(shù)研究院
專利發(fā)明（設(shè)計(jì)）人：黃百綱;范振業(yè);潘詔智
主權(quán)項(xiàng)：一種序列校正的方法，包括：(a)藉由一接收單元，獲得來自一相同來源的一第一讀出序列與一第二讀出序列；(b)藉由一測定單元，設(shè)定一比較條件；以及(c)藉由該測定單元，根據(jù)該比較條件比較該第一讀出序列與該第二讀出序列以產(chǎn)生一序列比較結(jié)果；以及(d)藉由該測定單元，根據(jù)該序列比較結(jié)果輸出一校正序列，其中該比較條件系根據(jù)該第一讀出序列之一第一序列子集目錄與該第二讀出序列之一第二序列子集目錄來設(shè)定，其中該第一讀出序列的該第一序列子集目錄包括復(fù)數(shù)個具有一特定長度的第一序列子集，該復(fù)數(shù)個第一序列子集構(gòu)成復(fù)數(shù)個具有不同序
專利地區(qū)：臺灣
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