帶內(nèi)光信噪比的檢測方法及裝置專利登記公告
專利名稱：帶內(nèi)光信噪比的檢測方法及裝置
摘要：本發(fā)明涉及光通信領(lǐng)域。本發(fā)明提供了一種帶內(nèi)光信噪比OSNR的檢測方法及裝置，其中該方法包括以下步驟：獲取發(fā)射端的第一光信號在信號功率PCW1、第二光信號的信號功率PCW2，以及總功率PS；根據(jù)PCW1、PCW2以及PS，得到PCW2與PS的比值k1、PCW1與PCW2的比值k2；獲取檢測點的第一光信號的信號功率P′CW1，和第二光信號的信號功率P′CW2；根據(jù)P′CW1和P′CW2，得到P′CW1與P′CW2的比值k3；根據(jù)k1、k2，k3，得到光信噪比。本發(fā)明能降低器件成本，提高掃描速度，且適用性廣。
專利類型：發(fā)明專利
專利號：CN200980120458.8
專利申請（專利權(quán)）人：華為技術(shù)有限公司
專利發(fā)明（設(shè)計）人：劉寧
主權(quán)項：
專利地區(qū)：廣東
Tags: 廣東
關(guān)于上述專利公告申明 : 上述專利公告轉(zhuǎn)載自國家知識產(chǎn)權(quán)局網(wǎng)站專利公告欄目，不代表該專利由我公司代理取得，上述專利權(quán)利屬于專利權(quán)人，未經(jīng)（專利權(quán)人）許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如您希望使用該專利，請搜索專利權(quán)人聯(lián)系方式，獲得專利權(quán)人的授權(quán)許可。